多功能相控陣檢測儀支持TRL、DMA技術超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合，由多個壓電晶片按一定的規律分布排列，然后逐次按預先規定的延遲時間激發各個晶片，所有晶片發射的超聲波形成一個整體波陣面，從而實現聲束位移、聲束偏轉和聲束聚焦等特性，達到各種檢測目的。
多功能相控陣檢測儀的技術優勢：
1.實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會誤判或漏判缺陷；
2.相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準；
3、相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現其它常規檢測技術所不能實現的功能，如對復雜工件檢測；
4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；
5、掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環境無污染；
6、檢測結果受人為因素影響小，數據便于儲存、管理和調用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。
7、可以節省許多成本費用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺陷報告，若有內部網路可以直接發送質檢報告到數據中心查閱。
多功能相控陣檢測儀不僅可以與10多種相控陣和超聲模塊相兼容，而且還提高了檢測效率：其更快的設置速度、更短的檢測周期、更快地創建報告的特性保證了高級AUT的高水平應用。為NDT專家研發的這款可升級的檢測平臺可實現真正的未來新一代的NDT檢測。
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